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電子部品業界

コネクタピンのコプラナリティ検査

コネクタのリード部高さ(コプラナリティ)とピッチ寸法を計測・検査します。
光切断法による3次元測定が可能な3D-Eye35000なら、リード部高さ(コプラナリティ)とピッチ寸法を1台で同時に高精度で計測可能。検査時間も最大で0.1秒/個なので、製造タクトを落とさずに検査することが可能です。

ネクタピンのコプラナリティ検査
  • 光切断法を用いた高精度な3次元計測。
  • 600個/分の超高速検査を実現。
  • 専用開発のソフトウェアとユーザーインターフェース。

3Dレンダリング画像

  • 3Dレンダリング画像

検査画面

  • 検査画面

検査項目

コネクタピンの形状不良で引き起こされる電気的接合不良を防ぐため、コネクタピンのコプラナリティー・ピッチ寸法・形状計測検査を行います。

  • コプラナリティー検査
    コネクタピンの仮想平面を設定し、高さ差を算出します。高さ差にしきい値を設けることで、OK/NG判別を行います。 img37_03
  • ピッチ寸法検査
    コネクタピンの中心線から隣り合うコネクタピンの中心線までの絶対距離を計測し、OK/NG判別を行います。 img37_04
  • 形状計測検査
    アールのついているピンの場合、仮想平面からの高さ、角度の3D計測により、コネクタピンの形状検査を行います。 img37_05

基本仕様

ワーク寸法 幅:2.5mm以内 長さ:20mm以内
検査タクトタイム 0.1秒/個
視野幅 約21mm
画素分解能 約14μm/pixel
計測再現性 ±5μm

装置例

  • 装置例

検査画面

設定画面やI/Oモニター等の確認画面は、シンプルとわかりやすさを追求。
検査画面(GUI)はオペレーター用、管理者用と切替可能。直感的に使うことができるので、誰でもかんたんに操作することが可能です。

  • 検査画面

使用製品

3D-Eye35000シリーズ

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