ニュース・更新情報

2013年5月1日
日本エフ・エーシステム株式会社
技術営業部
3D-Eyeスキャナー全シリーズに、
最小表面粗さ0.44μm(分解能)の計測機能を標準実装。

 日本エフ・エーシステム株式会社(本社:東京都品川区、代表取締役社長:青井昭博)は、2013年5月1日、卓上3D形状計測装置「3D-Eyeスキャナー」シリーズ9機種すべてに、新たに表面粗さ計測機能を標準実装して発売します。

 3D画像検査装置「3D-Eyeスキャナー」は、研究開発や品質管理用途で3次元形状測定を行うための簡易型卓上検査装置です。3Dカメラとレーザ光源により、対象物の表面形状を高精度に計測・検査でき、表面の欠陥を定量化した数値で判定できます。

 今回、表面粗さ計測機能のソフトウェアを標準装備することで、分解能0.44μmでセラミックや金属表面、基板などの微小な表面粗さを計測できるようになりました。また、範囲指定により全域の表面粗さを一瞬で計測できます。これにより、従来の接触針式表面粗さ計に対して、数倍の高精度と数十倍の速さで計測が可能になります。

 ボディサイズは1軸仕様で320×250×375mm(W×D×H)とコンパクトサイズのままで、標準価格も現行通り4,800,000円(税別)からの設定としています。

 今後も日本エフ・エーシステムは「JFAS(ジェイファス)」ブランドの製品を拡大し、機能向上を図ることにより、高速・高精細の画像処理技術を幅広くご提供していきます。

製品写真

3D-Eyeスキャナー

仕様・バリエーション

  1軸仕様 2軸仕様 2軸ワイド仕様
測定範囲(X×Y) 75㎜×15㎜ 75㎜×60㎜ 125㎜×105㎜
寸法
(W×D×H、ケーブル除く)
320×250×375㎜ 320×255×405㎜ 400×350×425㎜
PC・モニター OS:Windows 7 Professional、グラフィックボード DirectX対応

分解能を3種類からお選びいただけます。

  低分解能タイプ 標準タイプ 高分解能タイプ
測定視野(スキャン幅) 30㎜ 15㎜ 7.5㎜
推奨測定段差 2㎜ 1㎜ 0.5㎜
最大測定可能段差 10㎜ 5㎜ 2.5㎜
Z軸ストロークフォーカス 50mm
測定分解能 X・Y軸:20μm
Z軸:1.8μm
X・Y軸:10μm
Z軸:0.89μm
X・Y軸:5μm
Z軸:0.44μm

ソフトウエア画面イメージ

ソフトウエア画面イメージ

■左上に元画像が表示され、画像上をドラッグすることで計測範囲を指定します。
■計測範囲は1 ライン指定と矩形範囲指定が可能です。
■断面図の下には範囲内の算術平均粗さ(Ra)、最大高さ(Rz)、十点平均粗さ(Rzjis)が表示されます。その下には粗さ曲線の平均線を基準とした粗さ曲線が表示されます。
■平均線から上面にある部分が山、下面にあるものが谷とされ、各山谷のデータが一番下部分にリスト表示されています。
■測定したデータは一括でCSV ファイルとして保存することができます。

国内販売数目標(2013年)

10台

主要販売先

電子部品業界、半導体業界、医薬品業界、素材業界など

本件に関するお問合せ先

日本エフ・エーシステム株式会社
技術営業部 小松 健司 (E-mail: sales@jfas.co.jp
〒141-0031 東京都品川区西五反田4-32-1 東京日産西五反田ビル10F
TEL: 03-5740-7521 FAX: 03-5740-75245